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詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 應用領(lǐng)域 | 化工 |
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快速測量 | 最大典型12寸晶圓(即直徑300mm) | 膜厚測量范圍 | 15nm-75μm (對Si上的SiO2樣品) |
膜層數(shù)目 | 1-4層 | 膜厚測量重復性 | 0.1nm(對Si上100nm的SiO2樣品) |
準確度 | 2nm或0.4%(對Si上的SiO2樣品) |
膜厚檢測儀
產(chǎn)品介紹
快速測量,僅需1-2s即可完成一次測量
大范圍膜厚測量,可測量膜厚范圍從15nm-70μm
常規(guī)操作只需點擊一個按鈕即可運行,操作簡便
適用于工業(yè)現(xiàn)場,穩(wěn)定可靠
能夠滿足膜厚的常規(guī)測量,經(jīng)濟實用
產(chǎn)品參數(shù)
快速測量:最大典型12寸晶圓(即直徑300mm)
膜厚測量范圍:15nm-75μm (對Si上的SiO2樣品)
膜層數(shù)目:1-4層
膜厚測量重復性:0.1nm(對Si上100nm的SiO2樣品)
準確度:2nm或0.4%(對Si上的SiO2樣品)
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